真空镀膜 光学膜厚测量控制仪 膜厚仪 GM-X03

      本仪器是相位锁定放大器，用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道，参考信号通道和先进的四阶低q滤波技术组成，有很强的谐波抑制能力和动态储备，能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。

产品特点：

      1.采用进品高精密元件制作和daas是数字频谱分析系统测试，确保仪器具有可靠的质量和优越的性能

      2.高稳定性

      3.操作简便，实用性强

     了解更多请登陆绿系真空官方网站www.lxvtc.com，欢迎您的到来！

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本产品的加工定制是是，类型是薄膜测厚仪，品牌是LXVTC，型号是GM-X03，测量范围是0.5mV-500mV（mm），显示方式是指针,数显，电源电压是220VAC（V），外形尺寸是宽483x高98x深322,标准2U机壳（mm）